日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列

這是使用β射線（beta射線）的測厚儀（膜厚計）。以非接觸方式（β射線）測量薄片和板狀物體的厚度和密度（基本重量）。通過直接與參考物質(zhì)比較來計算厚度和密度（基本重量），而不是直接測量厚度。
　通常，為了測量片材的寬度方向上的厚度分布，檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶并進行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段，但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上，則其傳送的精度遠遠低于激光位移計的精度，從而導致結(jié)果。高精度測量是困難的。
　另一方面，在諸如β射線測厚儀之類的通過透射衰減來估計厚度的方法中，測量了空氣層-樣本-空氣層與滲透之間的衰減，但是樣本的衰減遠大于空氣的影響，運輸?shù)挠绊憙H表現(xiàn)為空氣層厚度的變化，并且影響很小。因此，可以高精度地進行測量。

β射線測厚儀的一般特點

1. 基本重量可以在不依賴于元素的情況下進行測量。

我們的β射線測厚儀與常規(guī)β射線測厚儀相比的特點

1. 無需設置資格或控制區(qū)域（帶顯示的身份驗證設備）
2. 檢測單元和β射線源單元緊湊，輕便，甚至可以安裝在狹窄的地方。

采用

• 塑料膜（多層擠出膜等）
• 電池電極（鋰離子電池（負極/正極），鎳氫電池等）
• 玻璃纖維布
• 陶瓷片
• 銅箔，鋁箔，不銹鋼箔

日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列

貝塔射線測厚儀SB-1100